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MAP-200 mORL/mIL 插损/回损测试解决方案

简要描述:MAP-200 mORL/mIL 插损/回损测试解决方案对于连接密集型中心局、数据中心和光分配网络至关重要。在远程通信、数据通信、无线回传和FTTx之外,在海洋、航空电子和军事应用继续大幅增加的同时,新式超级计算应用也在不断涌现。所有这些市场都是由更高的带宽要求推动的。出于必要,市场上不断推出新的连接器规格,这是由降低安装成本、加快部署的需求推动的。

  • 产品型号:MAP-200 mORL/mIL
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2019-04-21
  • 访  问  量:467

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详细介绍
价格区间面议组件类别光源

MAP-200 mORL/mIL 插损/回损测试解决方案

主要优点

•      使生产效率增加4倍

•      所需空间为其他测试平台的25%

•      可扩展至高成长性、高性能新应用,例如40/100 G数据中心市场

•      模块化平台可根据需要在预算允许范围内扩展

•      通过端口映射在15秒以内验证多芯光纤MPO组件的连通性及双向性能

•      完全支持快速增长的MPO和MTP多光纤连接器的测试

 

应用

•      对光连接器和光缆组件、结构化布线解决方案和光分路器的插损/回损/长度进行测试

•      对多芯光纤组件(例如MPO)进行自动测试

•      单模和多模光纤测试解决方案

•      对大型多芯光纤组件的连通及双向性能指标进行验证

MAP-200 mORL/mIL 插损/回损测试解决方案

对于连接密集型中心局、数据中心和光分配网络至关重要。在远程通信、数据通信、无线回传和FTTx之外,在海洋、航空电子和军事应用继续大幅增加的同时,新式超级计算应用也在不断涌现。所有这些市场都是由更高的带宽要求推动的。出于必要,市场上不断推出新的连接器规格,这是由降低安装成本、加快部署的需求推动的。

但这些连接点的质量和光性能往往被忽视。插损和回损(IL和RL)不佳可能会对网络性能造成深远影响。性能不佳会直接影响接入和可靠性,甚至会阻碍技术升级之路。同时,经济因素也要求制造商继续降低成本、加快生产并缩短上市时间。

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