MAP-200 mORL/mIL 插损/回损测试解决方案

MAP-200 mORL/mIL 插损/回损测试解决方案

主要优点

•      使供应效率增加4倍

•      所需空间为其他测试平台的25%

•      可扩展至高成长性、高性能新应用，例如40/100 G数据中心市场

•      模块化平台可根据需要在预算允许范围内扩展

•      通过端口映射在15秒以内验证多芯光纤MPO组件的连通性及双向性能

•      *支持快速增长的MPO和MTP多光纤连接器的测试

应用

•      对光连接器和光缆组件、结构化布线解决方案和光分路器的插损/回损/长度进行测试

•      对多芯光纤组件（例如MPO）进行自动测试

•      单模和多模光纤测试解决方案

•      对大型多芯光纤组件的连通及双向性能指标进行验证

MAP-200 mORL/mIL 插损/回损测试解决方案

对于连接密集型中心局、数据中心和光分配网络至关重要。在远程通信、数据通信、无线回传和FTTx之外，在海洋、航空电子和军事应用继续大幅增加的同时，新式超级计算应用也在不断涌现。所有这些市场都是由更高的带宽要求推动的。出于必要，市场上不断推出新的连接器规格，这是由降低安装成本、加快部署的需求推动的。

但这些连接点的质量和光性能往往被忽视。插损和回损（IL和RL）不佳可能会对网络性能造成深远影响。性能不佳会直接影响接入和可靠性，甚至会阻碍技术升级之路。同时，经济因素也要求提供商继续降低成本、加快供应并缩短上市时间。