C测试仪3504-50能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断，对应测试线，比较器功能/触发输出功能。

C测试仪 3504-40封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等， 能根据C和D（损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断。

LCR测试仪 3511-50精巧，5ms快速测量LCR，高速测量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz）， 高精度： ± 0.08%， 内置比较器。

LCR测试仪IM35361mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量，可内部发生DC偏压测量，从研发到供应线活跃在各种领域中。

LCR测试仪IM3533基本精度±0.05％，测量范围广（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试，速度是我司以往产品的10倍，内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。