阻抗分析仪IM7580A紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小，丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定），使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量。

化学阻抗分析仪IM3590较快2ms的高速测量，实现扫描测量的高速化，基本精度±0.05%，零件检查到研究开发测量均可对应，适用于Cole-Cole图、等效电路分析等电器化学零件和材料的电阻（LCR）测量。

阻抗分析仪IM3570适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量，分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量，可以用于无线充电评价系统TS2400。

C测试仪 3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试，模拟测量时间0.6ms（1MHz）的高速测量，提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度。

C测试仪 3504-60对应测试线，比较器功能/触发输出功能，3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试，3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试， 查出全机测量中的接触错误，提高成品率。