涂层测厚仪简介

涂层测厚仪简介

覆层测厚仪是表面处理行业的精密测量仪器----德国EPK公司作为无损覆层厚度测量领域的，50多年以来一直致力于开发和供应各种用于表面处理行业的精密测量仪器，并与各标准化组织和研究院一道，成功地推进了覆层厚度测量在世界范围内的标准化进程。

覆层测厚仪包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能，所有测头都可配合任一种主机使用，在选择*适用的测头时需考虑覆层厚度，基体材料，基体形状，厚度和大小，几何尺寸等因素。这四种主机主要区别于存储的数据量，统计计算功能和校准方法的不同。其中，只有主机没有存储与统计功能，它操作简单，价格较低，而M主机拥有强大的数据处理功能。

与这些主机可配套的十几种测头根据原理可分为F型测头（磁感应原理），N型测头（电涡流原理）和FN型两用测头，F型测头*大量程可达50mm,*小量程仅达500um。N型测头*大量程可达100mm,*小量程仅达200um。在0—100um量程中，这些测头的分辨率可达到0.1um，符合DIN50891，SO2178，BS5411，答STMB499等标准。

公司在提供测头时，接触性测头的端部使用宝石等耐磨材料并大量运用钟表业的精密供应工艺，为保证其使用寿命，所有测头都经过特殊工艺处理，可以有效避免在长期使用后留下磨痕。

涂层测厚仪是公司根据实际需要可以供应一些能解决特殊情况的测头，例如：测量未固化粉末涂层的F1.6P，FN1.6P测头，测量管内壁的F1.6/90，N1.6/90测头,测量绝缘基体上的有色金属覆层CN02测头，测量铜基体上的镀铬层的N08Cr测头以及测量铝箔上薄涂层的测头No2Tu，还可供应其短时工作温度达摄氏350度的耐高温测头。